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M-3 手持式四探针电阻率测试仪

应用范围：M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

产品型号：M-3

安装尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H

重量：0.3kg

M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

性能指标和基本配置
产品特征	● 测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成 ● 手持式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准 ● 宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程 ● 操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示 ● 多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试
工作电源	● 208-240V，50/60Hz ● 电池供电：DC3.7V
探头	● 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配 ● 碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料 ● 球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层 ● 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差
选配	可选配快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度
测量范围、分辨率	电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方块电阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2
基本误差	±1%FSB±2LSB
外形尺寸	210mm L × 100mm W × 36mm H
净重	0.3kg

保修期	一年保修，终身技术支持。点击查看售后服务承诺书。

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